Rendszerint kripton (Kr) gáz adszorpcióját alkalmazzák kis fajlagos felületek meghatározásához. Miért mérhetők ezek a kis fajlagos felületek kripton gázzal?
A Kr és N2 gáz atomja/molekulája helyigénye 0,202 nm2 és 0,162 nm2. A Kr atomok tehát kb. 25 %-kal nagyobbak. Így a Kr gáz inkább kevésbé lenne alkalmas kis fajlagos felületek mérésére!
A Kr gáz használatának indoka adszorpciós hőmérséklete és az ottani p0 (Kr) telítési nyomása kicsiny (p0 (Kr)=80 Pa) értékében rejlik. A N2 gáz telítési nyomása itt sokkal nagyobb (p0 (N2)=30400 Pa). A térfogatos módszerben az adszorbeált gázmennyiség a bejuttatott és az egyensúlyi nyomáson nem adszorbeált gáz térfogata különbsége. A térfogatok meghatározása pontos nyomásméréssel és az ideális gáz egyenlete felhasználásával történik. Más szavakkal ez azt jelenti, hogy azonos méretű molekulákat és azonos p=50 Pa adszorpciós nyomást feltételezve az azonosra beállított p/p0 = 0,3 relatív nyomás változása N2 gáz esetében 0,16 % (=50/30400) mértékű, Kr gáz esetében pedig 63 % (=50/80) mértékű. Nyilvánvaló, hogy a nagyobb értéket könnyebb mérni, és így jobb a mérés helyessége. Tehát minél kisebb a p0 telítési nyomás az adszorpciós mérés hőmérsékletén, annál helyesebb a kis fajlagos felületek mérése.
Táblázat: Adszorbátumok paraméterei és velük mérhető fajlagos felülettartomány
Valójában nem olyan egyszerű a mérés helyességét növelni, úgy ahogy azt a fentiek ismertették. Kis fajlagos felületek Kr gázzal történő méréséhez nagyvákuum szivattyúval, további kisnyomású érzékelővel és tökéletes tömítéssel is kell rendelkeznie a készüléknek.
A Microtrac cég gázadszorpció elvén működő többféle analizátort is kínál.
